質(zhì)構(gòu)儀測(cè)餅干的硬度和脆性需要關(guān)注幾個(gè)問(wèn)題？

（1）餅干是什么樣的餅干？有沒(méi)有脆性？

對(duì)于一些很厚又較軟的餅干，有硬度，但是相對(duì)來(lái)說(shuō)脆性很小或者沒(méi)有脆性。而很薄又脆的酥性餅干，相對(duì)而言才有硬度和脆性的說(shuō)法。

（2）測(cè)餅干的硬度和脆性應(yīng)該選用哪些配件？

通常應(yīng)該選用2mm的柱形探頭和帶孔的平臺(tái)，柱形探頭穿刺完樣品之后從平臺(tái)的孔中穿出，保證樣品穿刺*而不會(huì)對(duì)探頭有損壞。

（3）測(cè)試條件如何選擇？    

測(cè)試前速度不宜太快，太快容易造成延遲啟動(dòng)分析，通常不超過(guò)3mm/s為宜；測(cè)試速度以受力均勻、樣品與探頭充分受力為宜，通常測(cè)試速度較小，在0.5mm/s-2mm/s比較合適；測(cè)試后速度主要和粘性有關(guān)，如果不考慮樣品粘性或者樣品沒(méi)有粘性，測(cè)試后速度可以調(diào)快一點(diǎn)。目標(biāo)模式也就是探頭壓到什么時(shí)候停止呢，建議采用距離模式，探頭測(cè)試移動(dòng)距離大于樣品的高度，從而保證*穿刺樣品。

（4）餅干的硬度和脆性如何定義呢？

這個(gè)是典型的餅干曲線，波動(dòng)可能是由餅干的破裂或是餅干內(nèi)部有大的內(nèi)含物而造成。因此，一般將曲線內(nèi)的zui高峰定義為餅干的硬度，線性距離定義為餅干的酥脆性，線性距離越短，餅干的酥脆性越好。